Simcenter Micred Power Tester主动功率循环可靠性测试设备系列

西门子Simcenter Micred Power Tester主动功率循环可靠性测试设备，用于对IGBT、MOSFET、DIODE等功率器件以及由功率器件构成的功率模块（包括功率器件、散热器、导热硅脂等）进行功率循环及热特性测试。设备具有测试第三代半导体器件以及第四代半导体器件的能力，包括：SiC MOSFET，GaN Power Device等。

Micred PwT测试设备主要由功率循环及热测试设备、冷却循环装置、被测模块几个部分组成。其中，功率循环及热测试设备含功率电源、热测试仪、工控机、安全监控单元等器件，用于对电力电子器件IGBT施加各种模式的功率循环，同时按照给定的模式对被测品的结温、热阻进行测量并可以进行结构函数分析。符合的测试标准包括JESD51-14和JESD51-1；温度测试方法：ETM测试法即器件导通电压作为温度敏感参数；针对 SiC MOSFET 器件的测试提供栅极延时功能：在对 SiC MOSFET 器件测试采用MOSFET Saturation 模式时，可以采用栅极延时功能。

1.Micred PwT测试设备能够对应用在机车牵引、汽车电子行业的高标准、高可靠性要求的电力电子器件以及模组进行功率循环测试，即进行可靠性评估；可以通过瞬态热测试技术对电力电子器件以及模组进行热特性测量。此平台具有栅极延时关断功能，可以对SiC MOSFET器件进行测试；

2.Micred PwT测试设备是一个工业化的解决方案，与传统的、单一功能的功率循环测试设备相比有很大的不同并具有极大的优势；

3.Micred PwT测试设备既可以对电力电子器件以及模组进行功率循环测试即对被测器件施加热-应力测试，进行可靠性评估；还可以通过瞬态热测试技术对电力电子器件以及模组进行热特性测量。特别是在功率循环测试中通过周期性进行的瞬态热测试得到的结构函数曲线，和因为平台监控指标值超标而触发的瞬态热测试得到的结构函数曲线，可以清晰的显示出随着功率循环测试的进行，电力电子器件以及模组的降级过程。此外，实验平台还可以测试功率晶体管，功率二极管，MOSFET等其它功率半导体器件。

西门子Simcenter Micred Power Tester系列设备是针对高功率电子设备开发的先进测试系统，可将有效功率循环测试与瞬态热特性分析和热结构研究相结合。执行无损结构功能评估，提供测试器件的完整电气和结构评估。