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“小巨人”成就“大创新” — 中小型制造企业创新发展周
仿真和试验技术助力中小型制造企业加速研发创新，星期二 — 星期五，2024年1月16-19日，在线研讨会：PC端/手机端收看
넶121 2024-01-03 -
Simcenter MicReD Quality Tester在线质量测试设备介绍
西门子最新产品Simcenter MicReD Quality Tester在线质量测试设备，可成功满足器件数据表中引用的参数；确保器件/模组热可靠-关键热界面层中没有不良缺陷或分层，进而缩短使用寿命；减少对老化测试的依赖。
넶96 2024-01-03 -
Simcenter Micred技术解决方案
Simcenter Micred技术解决方案包括：Simcenter Micred Power Tester主动功率循环可靠性测试设备、Simcenter Micred T3Ster SI瞬态热测试设备以及Simcenter Micred Quality Tester在线质量检测设备。
넶18 2025-08-15 -
通过功率循环实验量化大功率多芯片IGBT模组热路径中的分层及降级区域
热传导路径的老化降级是功率半导体封装最常见的失效机理。焊料疲劳的发生是由于构成热流路径不同的材料之间的热膨胀系数不匹配而导致界面交界处的热-机械应力，并导致分层开裂。使用瞬态热测试技术进行瞬态热测试是功率半导体封装中热传导路径的常用表征方法
넶33 2025-08-15
